Plateforme d’imagerie, de Caractérisation et d’eXpérimentation des matériaux à l’Échelle Locale

Données principales

Année de création :
2013
Localisation :
Gif-sur-Yvette
Responsable opérationnel·le de la plateforme :
Maxime VALLET
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Missions scientifiques

La plateforme PICXEL met à disposition de la communauté scientifique et industrielle les différents équipements expérimentaux du LMPS pour la caractérisation micro-mécanique in-situ des matériaux à différentes échelles :

       - nanométrique avec la Microscopie Electronique en Transmission (MET) ;

       - nano/micrométrique avec la Microscope Electronique à Balayage couplé à un faisceau d’ions focalisés (MEB-FIB) ainsi qu’un MEB dédié à l'imagerie haute résolution ; 

       - micro/millimétrique avec la tomographie X 

Ces grands équipements sont couplés par un ensemble de machines d'essais mécaniques in-situ adaptés à chaque échelle d’observation.

Objectifs scientifiques

La plateforme PICXEL (ex plateforme MATMECA@LMPS) vise à développer et à adapter des protocoles expérimentaux pour l'étude des propriétés mécaniques de matériaux en lien avec les activités du laboratoire LMPS.