Plateau Microscopie Electronique

Scientific missions

La plateforme fournit l’accès à plusieurs microscopes électroniques de dernière génération : elle offre son expertise sur toutes les techniques associées à la réalisation d’un projet de recherche par les méthodes de caractérisation de surface et d'analyse structurale à l'échelle atomique.
Ses missions sont :
- Préparation de l’échantillon pour son observation aux microscopes électroniques ;
- Pilotage des équipements ;
- Analyse préliminaire et interprétation des données pour validation et ajustement des conditions expérimentales ;
- Traitement et analyse des données.

Scientific objectives

L'objectif scientifique principal de la plateforme porte sur la caractérisation structurale et chimique des matériaux (massifs ou nano-structurés).